半導體分立器件測試#晶體管直流參數測試
內容簡介 半導體靜態/動態測試,半導體測試設備可針對,光耦測試,功率循環測試
半導體測試設備可針對Si/SiC/GaN材料的IPM/IGBT/MOS/DIODE/BJT/SCR等功率器件、光耦、IC可進行高精度靜態參數測試（導通、關斷、擊穿、漏電、增益等直流參數）測試精度可達16位ADC；動態雙脈沖（包括Turn_ON_L/Turn_OFF_L/FRD/Qg）及Rg/UIS/SC/C/RBSOA測試等；環境老化測試（包括HTRB/HTGB/H3TRB/Surge/間歇壽命等
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